Modèles fréquentiels forts niveaux pour la prédiction d’impact d’impulsion électromagnétique sur les systèmes
Résumé
In this article the use of a frequency method will be proposed in order to extract from a TLP measurement the S parameters of a diode for different injection voltages. These S parameters will allow the extraction of an equivalent SPICE model depending on the injected power. It will then be demonstrated that an extrapolation of the elements composing the model is possible in order to predict the behavior of a component over a wide injection range.
Dans cet article l’utilisation d’une méthode fréquentielle sera proposée afin d’extraire d’une mesure TLP les paramètre S d’une diode pour différentes tensions d’injection. Ces paramètres S permettront d’aboutir à un modèle SPICE équivalent dépendant de la puissance injectée. Il sera ensuite démontré qu’une extrapolation des éléments composant le modèle est possible afin de prévoir le comportement d’un composant sur une large plage d’injection.
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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