Accessing d-d Excitations Around Misfit Dislocations in Strongly Correlated NiO Thin Films Using High Energy-Resolution EELS
Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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Soumis le : jeudi 28 novembre 2024-22:11:10
Dernière modification le : jeudi 5 décembre 2024-03:35:43